X射线厚度测量原理

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X射线厚度测量原理
作为穿透式测厚仪，其一般原理如图1一所示，X射线管在高压电场作用下产生X射线，穿透被测带板的剩余射线作用到电离室，在电离室激发电离，得到微弱电信号，经前置放大和对数放大后，进行材质、温度等相关补偿，这时候就可以有厚度绝对值输出，当然也可以给定目标厚度，进行偏差放大，得到偏差输出。偏差输出和绝对值输出都可以表达厚度信息，有不同的应用场合。其中这里用到的校准板为已知厚度和材质的标准板，用以校核环境因数，得到补偿系数，可以按照实际情况定期进行校核。
图1 X射线测后仪基本原理
电离室得到的是经过被测带板发散和吸收后透过带板的部分射线，而透过的射线强度与板带厚度有一定的关系[2]，可以用公式（1）表示：
                      …………（1）
式中   I……穿过被测板带的射线强度；
    ……穿过被测板带前的射线强度；
    ……质量吸收系数， /g；
    ……被测板带密度，g/ ；
    d……被测板带厚度，cm 。
当
恒定或者已知时，那么板带厚度就由穿过被测板带的射线强度直接决定。X射线的发射强度正比于射线管阳极电流，与管电压成指数关系，当射线不透过带钢而是直接到达电离室，这时候就可以认为检测到的射线强度为 ,如果管电压有良好的稳定性，我们这里用到的是80KV的管电压，控制其精度在0.05%，管电压偏差不超过20V。


http://www.sysanling.cn/index.asp

lwf_2020

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沙发

谢谢啊